EKSMA-光學(xué)平板

產(chǎn)品型號：
更新時間：2023-12-18
產(chǎn)品介紹：EKSMA-光學(xué)平板
光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。我們提供具有參考表面λ/ 20 @ 633 nm平坦度的單表面光學(xué)平面。
廠商性質(zhì)：代理商
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產(chǎn)品介紹

品牌	Eksma	價格區(qū)間	面議
組件類別	光學(xué)元件	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池

EKSMA-光學(xué)平板

光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。我們提供具有參考表面λ/ 20 @ 633 nm平坦度的單表面光學(xué)平面。

o參考表面的平坦度：λ/ 20

o非常適合測試和評估其他光學(xué)元件

光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。在平面和被評估對象之間的空氣中形成干涉圖案，并且這種圖案通常通過平面比通過對象更能看到。該圖案由交替的明暗條紋或條紋組成，這些條紋或條紋是氣膜厚度的等高線圖。如果光學(xué)表面比所評估的表面明顯平坦，則直接將干涉圖案解釋為被評估表面的等高線圖是正確的。

如果在物體的頂部使用平板，并通過平板觀察干涉圖案，則在平板的頂表面（不接觸被評估物體的表面）上具有防反射涂層是有利的。

EKSMA-光學(xué)平板

光學(xué)平面可以提供涂層。如果您想訂購帶涂層的光學(xué)平板，請注意平板的代碼和您要求的涂層代碼。有關(guān)適當?shù)腁R涂層，請參閱涂層部分。

材質(zhì)	UV FS
直徑公差	+0.00, -0.12 mm
*面平整度：	λ/20 @ 633 nm
第二面平整度：	2 λ @ 633 nm
厚度公差	±0.2 mm

型號	直徑D	厚度T
230-1208E	ø 25.4 mm	8.0 mm
230-1208M	ø 25.0 mm	8.0 mm
230-1410E	ø 38.1 mm	10.0 mm
230-1410M	ø 40.0 mm	10.0 mm

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